一、不在路检测
这种方法是在ＩＣ未焊入电路时进行的，一般情况下可用万用表测量各引脚对应于接地引脚之间的正、反向电阻值，并和完好的ＩＣ进行比较。
二、在路检测
这是一种通过万用表检测ＩＣ各引脚在路（ＩＣ在电路中）直流电阻、对地交直流电压以及总工作电流的检测方法。这种方法克服了代换试验法需要有可代换ＩＣ的局限性和拆卸ＩＣ的麻烦，是检测ＩＣ最常用和实用的方法。
１．在路直流电阻检测法
这是一种用万用表欧姆挡，直接在线路板上测量ＩＣ各引脚和外围元件的正反向直流电阻值，并与正常数据相比较，来发现和确定故障的方法。测量时要注意以下三点：
(1)测量前要先断开电源，以免测试时损坏电表和元件。
(2)万用表电阻挡的内部电压不得大于６Ｖ，量程最好用Ｒ×１００或Ｒ×１ｋ挡。
(3)测量ＩＣ引脚参数时，要注意测量条件，如被测机型、与ＩＣ相关的电位器的滑动臂位置等，还要考虑外围电路元件的好坏。
２．直流工作电压测量法
这是一种在通电情况下，用万用表直流电压挡对直流供电电压、外围元件的工作电压进行测量；检测ＩＣ各引脚对地直流电压值，并与正常值相比较，进而压缩故障范围，找出损坏的元件。测量时要注意以下八点：
(1)万用表要有足够大的内阻，至少要大于被测电路电阻的１０倍以上，以免造成较大的测量误差。
(2)通常把各电位器旋到中间位置，如果是电视机，信号源要采用标准彩条信号发生器。
(3)表笔或探头要采取防滑措施。因任何瞬间短路都容易损坏ＩＣ。可采取如下方法防止表笔滑动：取一段自行车用气门芯套在表笔尖上，并长出表笔尖约０．５ｍｍ左右，这既能使表笔尖良好地与被测试点接触，又能有效防止打滑，即使碰上邻近点也不会短路。
(4)当测得某一引脚电压与正常值不符时，应根据该引脚电压对ＩＣ正常工作有无重要影响以及其他引脚电压的相应变化进行分析，才能判断ＩＣ的好坏。
(5)ＩＣ引脚电压会受外围元器件影响。当外围元器件发生漏电、短路、开路或变值时，或外围电路连接的是一个阻值可变的电位器，则电位器滑动臂所处的位置不同，都会使引脚电压发生变化。
(6)若ＩＣ各引脚电压正常，则一般认为ＩＣ正常；若ＩＣ部分引脚电压异常，则应从偏离正常值最大处入手，检查外围元件有无故障，若无故障，则ＩＣ很可能损坏。
(7)对于动态接收装置，如电视机，在有无信号时，ＩＣ各引脚电压是不同的。如发现引脚电压不该变化的反而变化大，该随信号大小和可调元件不同位置而变化的反而不变化，就可确定ＩＣ损坏。
(8)对于多种工作方式的装置，如录像机，在不同工作方式下，ＩＣ各引脚电压也是不同的。
３．交流工作电压测量法
为了掌握ＩＣ交流信号的变化情况，可以用带有ｄＢ插孔的万用表对ＩＣ的交流工作电压进行近似测量。检测时万用表置于交流电压挡，正表笔插入ｄＢ插孔；对于无ｄＢ插孔的万用表，需要在正表笔串接一只０．１～０．５μＦ隔直电容。该法适用于工作频率比较低的ＩＣ，如电视机的视频放大级、场扫描电路等。由于这些电路的固有频率不同，波形不同，所以所测的数据是近似值，只能供参考。
４．总电流测量法
该法是通过检测ＩＣ电源进线的总电流，来判断ＩＣ好坏的一种方法。由于ＩＣ内部绝大多数为直接耦合，ＩＣ损坏时（如某一个ＰＮ结击穿或开路）会引起后级饱和与截止，使总电流发生变化。所以通过测量总电流的方法可以判断ＩＣ的好坏。也可用测量电源通路中电阻的电压降，用欧姆定律计算出总电流值。
以上检测方法，各有利弊，在实际应用中最好将各种方法结合起来，灵活运用。
如何借助万用表检测可控硅
可控硅分单向可控硅和双向可控硅两种，都是三个电极。单向可控硅有阴极（K）、阳极（A）、控制极（G）。双向可控硅等效于两只单项可控硅反向并联而成。即其中一只单向硅阳极与另一只阴极相边连，其引出端称T2极，其中一只单向硅阴极与另一只阳极相连，其引出端称T2极，剩下则为控制极（G）。
1、单、双向可控硅的判别：先任测两个极，若正、反测指针均不动（R×1挡），可能是A、K或G、A极（对单向可控硅）也可能是T2、T1或T2、G极（对双向可控硅）。若其中有一次测量指示为几十至几百欧，则必为单向可控硅。且红笔所接为K极，黑笔接的为G极，剩下即为A极。若正、反向测批示均为几十至几百欧，则必为双向可控硅。再将旋钮拨至R×1或R×10挡复测，其中必有一次阻值稍大，则稍大的一次红笔接的为G极，黑笔所接为T1极，余下是T2极。
2、性能的差别：将旋钮拨至R×1挡，对于1~6A单向可控硅，红笔接K极，黑笔同时接通G、A极，在保持黑笔不脱离A极状态下断开G极，指针应指示几十欧至一百欧，此时可控硅已被触发，且触发电压低（或触发电流小）。然后瞬时断开A极再接通，指针应退回∞位置，则表明可控硅良好。
对于1~6A双向可控硅，红笔接T1极，黑笔同时接G、T2极，在保证黑笔不脱离T2极的前提下断开G极，指针应指示为几十至一百多欧（视可控硅电流大小、厂家不同而异）。然后将两笔对调，重复上述步骤测一次，指针指示还要比上一次稍大十几至几十欧，则表明可控硅良好，且触发电压（或电流）小。
若保持接通A极或T2极时断开G极，指针立即退回∞位置，则说明可控硅触发电流太大或损坏。可按图2方法进一步测量，对于单向可控硅，闭合开关K，灯应发亮，断开K灯仍不息灭，否则说明可控硅损坏。
对于双向可控硅，闭合开关K，灯应发亮，断开K，灯应不息灭。然后将电池反接，重复上述步骤，均应是同一结果，才说明是好的。否则说明该器件已损坏。