新增应用解决方案——4200-FLASH工具包为功能强大的黑盒式Flash存储器测试解决方案，实现针对Flash存储器的三种最重要测试：特征分析、耐久性测试和干扰测试。该应用工具包自动实现直流测试和脉冲测试的切换，无需外部开关。其内置高耐久性输出继电器，摒弃大多数Flash测试采用的外部固态继电器，从而加快Flash存储器的寿命测试，提高测试效率和易用性。此外，4200-FLASH工具包内提供的专用代码和项目简化Flash存储器测试的配置和启动过程。

新增的4200-PIV-A工具包，为吉时利（Keithley）现有获奖工具包4200-PIV的增强版，专门针对前沿的CMOS器件特征分析而量身定制，其增强功能包括改进的低至100nA的低电流分辨率、结合了脉冲测试与直流测试的友好操作界面和直观的图形界面。

连续的软件升级

KTEI（Keithley Test Environment Interactive，吉时利交互式测试环境）的最新版本V6.2版增强多种软件功能， 包括采用以太网连接，远程调用脉冲发生器和示波硬件，在UTM（User Test Module，用户测试模块）中远程控制板级测试，这些新功能改进了原来通过外部PC控制4200-SCS的方式。此外，另一项新功能允许用户在多种常规应用中通过友好的GUI界面与单个的UTM进行交互，包括一个开关矩阵控制器和PIV测试。KTEI V6.2版还可作为独立软件工具包安装在用户PC机，用于离线测试生成和测试后期数据分析。现有客户能够很方便地升级到新版应用解决方案，保护投资，减少固定设备建设费用，从而降低测试总成本

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