深圳典测科技k588系列在线测测试仪的电子档说明书谁有？

答：典测K588系列元件调试手册
跳线调试(J模式)
J模式实际值和标准只有四个设定值，即1、2、3、4，其对应值为 1:0~5欧姆 2:5~25欧姆 3:25~50欧姆 4:50欧姆以上
在组件编辑画面下，将跳线步骤或将电感线圈要做跳线测试步骤设为“J”模式
一般设定标准值为1，上下限为10，即阻值设定为0~5欧姆。如跳线测到2或3(5~50欧)则表示针床接触不良或是旁路有电容和电感效应，需检查探针或适当加大延时。测试值为4时，一般为开路状态。请检查排线是否插好，针床探针是否老化等。
电阻组件调试（R模式）
旗标（Fg）有五种方式，分别为：
1：CV-R(定电压测电阻)　2：CI-R(定电流测电阻)　3：CV-Sync(定电压同步积分)
4：CI-Sync(定电流同步积分)　5：AC-R（交流法测试）
当电阻组件测试不良时，首先确认：实际值、高低点、标准值是否正确，如不正确请将其更正。将标准值清零，输入正确的标准值，系统的F、T、S会自动复位，将上下限设为1或2，去掉Fg值和所有隔离点，按F2自动学习，如学成则还原上下限，如无法学到则可将FG改为3(CV- Sync)重复上述步骤，对部分无法学成的步骤，可按Alt+G人工寻找隔离点，当电阻与较大电容并联时则需加大延时，如测试值飘动可按Alt+R设定单步重测或增加单步延迟时间。
小电阻做四线式测试，先将步骤拷贝入四端组件编辑画面，植针时在小电阻两端各植有两根针，在两端各取一根针输入高点、低点栏位，剩下两根针分别输入对应的讯号+和讯号-位置，模式改为R4，按F2自动学习后即可测试。
电容组件调试（C模式）
FG:旗标二种方式分别为：
1：CI-C(定电流测试电容)　2：AC-C(交流法测试电容)
电容调试方法与电阻相同，只是FG有不同。在调试小电容(PF级)时受到杂散电容的影响，实际测试到的值会比标准值大，这时可将后面的F、T、S改为4、4、4后按Ctrl+F10系统会自动扣除杂散电容，最后测到真正的电容值。10uF以上电容用定电流法测试，即FG设为1。大电容并联小电容时，小电容不能测试。
二极管/IC组件调试（D、IC模式）
FG:旗标四种方式分别为：
1：Const I(定电流)　 2：Const V (定电压)　
3：Const I with V Limit(定电流限电压)4：Const V with I Limit (定电压限电流)
D模式和IC模式测试时要特别慎重，对于IC，我们需要选择合适的电流与电压进行测试，D模式选用默认的2来进行测试，对电压与电流有限制的IC尽量选择4，档位S不要超过4，补偿值位置可以设定送出或限制电压的大小，调试时配合调整电压与电流。按F2学习可自动完成调试，F8反转高低点正反向电压会有较大偏差。
二级管顺向并联时，用DR模式可测试漏件，测试前将模式改为DR，按F2自动学习即可测试其顺向并联导通电阻，此时补偿值栏会产生一电压值，此值为二极管导通电压值，测试值在50-100欧姆为正常值，将测试值按F10拷贝至实际值与标准值位置（此时的实际值是上限值，标准值是下限值）。
三极管调试（D/TR模式）
三极管测试分为三步，即BC、BE、CE，BC/BE极测试用D模式。将TR模式步骤设置到三端组件编辑画面，当测CE(三极管饱和压降，可测试CE极插反现象)时，高低点为CE两极下针点，标准值为200mv，模式改为TR ，FG输入三极管型号(NPN or PNP),讯号针位置输入B极下针点，按F2自动学习。测试值一般在200mv以内。
继电器及光耦合调试（PHO&RLY模式）
继电器和光耦合为四端组件，测试时将其先设置到四端组件编辑画面，将模式改为对应模式，继电器的开关组和光耦合的CE极设置到高点与低点，再将继电器的线圈组和光耦合的二极管组设置到讯号+和讯号-位置，按F2学习即可
电感（L模式）
电感测试一般分两步即一步测试电感值，另一步测试其电阻值或当跳线测试。测电阻时调试方法同电阻。当电感值小于10uH时，建议值F=5 T=4 S=1。变压器之类元器件，因为线圈引脚比较靠近，实际生产时，很容易短路，如果只将其当跳线测试，往往很难找出短路现象，建议将其增加一步测试电感量，可避免此类问题测试不出。

备注：
1. 量测值验证法：
   i. 调整上下一档，其量测值必须相近
   ii.重测性良好
   如未符合上项要素，则可能量测到非DUT的值
2. 各操作步骤均须配合 Swap P+ / P- (F8)来做
3. R--T值 ≥ 4或Scale檔位 ≥ 6 时，必要时加Delay

以上为一般组件调试简介，如需详细调试方式，请与我司技术人员接洽DCT_ICT@126.COM